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2010精密烘箱


详细信息 : 产品名称:三箱式冷热冲击试验箱
  • 销售顾问: 138809519 1617296167
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  • 技术支持: 402057162
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      设备用途:



      用于测试各类电子电工产品、零部件、材料在快速的经过极高温和极低温的热胀冷缩引起的化学和物理变化对其造成的损伤,真实的模拟其环境变化,检验其可靠性和稳定性,找出缺陷,以便改进。


      试验参考标准:



      GJB 150.5A-2009温度冲击试验

      GJB 360B-2009温度冲击试验

      GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009温度冲击试验

      GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971电工电子产品环境试验第2部分:试验方法温度变化试验导则

      GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验A:低温

      GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2:2007 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温

      GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件

      GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件


      设备特点:



      *箱体钣金:

        内箱:304不锈钢或镜面不锈钢;

        外箱:304不锈钢或冷轧钢板双面烤漆,任由客户选配,可满足不同试验室风格要求;

        保温层:高密度聚氨酯+玻璃纤维棉整体发泡,厚度100mm;

      *箱体结构:

        设备结构为三箱式,一箱为高温贮存区,二箱为低温贮存区,三箱为测试区

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      *制冷系统四大件:

        压缩机:根据客户温度条件订制法国泰康、德国比泽尔、美国谷轮、德国博客等国际知名品牌压缩机;

        冷凝器:根据客户温度条件选用知名品牌特殊订制;

        蒸发器:根据客户温度条件选用国际知名品牌特殊订制;

        节流阀:意大利卡士妥或美国Sporlan;

      *电控系统:

        继电器、接触器:施耐德或欧姆龙;

        发热丝:钛合金特殊订制;

        控制器:进口工业级微电脑控制器,抗积分饱和PID,BTC平衡调温控制方式,BTHC平衡调温调湿控制方式;


      设备规格:



      设备型号

      内箱尺寸(单位:cm)

      外箱尺寸(单位:cm)

      温度冲击范围

      HC-I-50

      W35×H4D36

      W140×H180×D142

      高温冲击:+50℃~+150(最高到200)

      低温冲击:A:-10℃~-40 

      B:-10℃~-55

      C:-10℃~-65

      常温冲击:室温

      HC-I-80

      W5H4D40

      W155×H180×D148

      HC-I-150

      W6H50×D50

      W165×H190×D158

      HC-I-252

      W7H60×D60

      W175×H200×D168

      HC-I-512

      W8H80×D80

      W185×H220×D188

      HC-I-1000

      W100×H10D100

      W205×H240×D208

      HC-I-

      按客户要求订制

      按客户要求订制


      性能参数:



      温度分辨率

      0.1℃             

      温度偏差

      ±2出风口处测量

      温度均匀度

      ±2℃ 空载测量

      温度波动度

      ±1

      温度范围

      -65℃~+150(最高到+200)

      测试区温度范围

      温度冲击模式

      高温:+60℃~+150测试时间:25min以上

      低温-10℃~-65测试时间:25min以上

      常温室内温度,测试时间:5min以上

      蓄热区升温时间

      自常温到+220℃,约40分钟

      蓄冷区降温时间

      自常温到-75℃,约65分钟

      温度恢复时间

      风门打开时间:5秒以内

      测试区温度恢复时间:10分钟

      冲击过程(如图所示)

       

      图片4(1).jpg

         绿色为高温区储热曲线,   红色为实验区冲击曲线,   蓝色为低温区储冷曲线

      设备冷却方式

      风冷式或水冷式(水冷式需使用到冷却循环水或安装冷却水塔)


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